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臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀
- 產(chǎn)品介紹：貝拓科學(xué)專(zhuān)業(yè)研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的BRAGG臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀采用先進(jìn)的X射線(xiàn)衍射技術(shù)，能夠快速、精確地進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析、相態(tài)識(shí)別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應(yīng)對(duì)多種樣品類(lèi)型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶(hù)友好的軟件界面，方便用戶(hù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。這款儀器適用于多個(gè)領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、地球科學(xué)、化學(xué)等，為研究人員和工程師提供了強(qiáng)大的分析工具。
- 產(chǎn)品型號(hào)：BRAGG110
- 更新時(shí)間：2024-07-18
- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 產(chǎn)品品牌：貝拓科學(xué)
- 產(chǎn)品廠地：廣州市
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：481
- 在線(xiàn)留言 020-34498462
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 貝拓科學(xué) | 價(jià)格區(qū)間 | 50萬(wàn)-100萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 儀器種類(lèi) | 多晶衍射儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,冶金,航天 |
貝拓科學(xué)專(zhuān)業(yè)研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的BRAGG臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀采用先進(jìn)的X射線(xiàn)衍射技術(shù)，能夠快速、精確地進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析、相態(tài)識(shí)別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應(yīng)對(duì)多種樣品類(lèi)型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶(hù)友好的軟件界面，方便用戶(hù)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。這款儀器適用于多個(gè)領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、地球科學(xué)、化學(xué)等，為研究人員和工程師提供了強(qiáng)大的分析工具。
儀器特點(diǎn)
● 光子計(jì)數(shù)X射線(xiàn)探測(cè)器
面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器
高靈敏，可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù)
動(dòng)態(tài)范圍大
雙閾值
抗強(qiáng)輻射長(zhǎng)時(shí)照射，長(zhǎng)壽命
● 固定測(cè)角儀系統(tǒng)
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時(shí)收集γ角度信息
● 大角度弧形探測(cè)器
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時(shí)收集γ角度信息
探測(cè)器至樣品距離:150 mm
多片探測(cè)器全角度無(wú)縫覆蓋
● 支持多種數(shù)據(jù)采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜
功能應(yīng)用
● 物相鑒定
● 定量分析
●結(jié)晶度
●晶胞參數(shù)
●晶粒尺寸
●晶體結(jié)構(gòu)
●Rietveld 精修
●相變
技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | BRAGG臺(tái)式X射線(xiàn)衍射儀 | |
| X射線(xiàn)管 | 種類(lèi) | Cu靶(靶材可選)金屬陶瓷管 |
焦點(diǎn) | 0.4x10/1x10mm點(diǎn)/線(xiàn)可互換 | |
| X-射線(xiàn)發(fā)生器 | 最大輸出 | 600W |
管電壓 | 15~40kV，1kV/Step | |
管電流 | 5~15mA，1mA/Step | |
管電壓、管電流穩(wěn)定度 | ≤0.01%(電源電壓浮動(dòng)10%) | |
| 測(cè)角儀 | 測(cè)角儀結(jié)構(gòu) | θ/2θ |
衍射光路幾何 | Bragg-Brentano/Debye-Scherrer可切換 | |
測(cè)角儀半徑 | 150mm | |
掃描/照相角度范圍 | -10~80°(θ)-3~150°(2θ) | |
工作方式 | 分段/固定照相 | |
θ軸連續(xù)掃描速度 | 0.125~30°/min | |
θ軸最高轉(zhuǎn)速 | 10°/s | |
2θ角重復(fù)精度 | ≤±0.001° | |
測(cè)量準(zhǔn)確度 | ±0.02 | |
| 檢測(cè)器 | 類(lèi)型 | 混合像素光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器 |
像素尺寸 | 70x70 μm2 | |
單片面積 | 20.1x20.1mm2 | |
噪聲 | <1cps | |
能量分辨率 | 1000eV | |
數(shù)量 | 11/21片 | |
最大線(xiàn)性計(jì)數(shù) | 3x106cps/pixel | |
| 機(jī)柜 | 機(jī)柜尺寸(mm) | 770(長(zhǎng))x520(寬)x800(高) |
整機(jī)重量(kg) | 120 | |
輻射劑量 | ≤0.2uSv/h(未扣除天然本底) | |
安全措施 | 門(mén)聯(lián)鎖保護(hù)/功率保護(hù)/過(guò)熱保護(hù) | |
濾波器 | Ni濾片 | 對(duì)應(yīng)Cu靶 |
| 綜合指標(biāo) | 整機(jī)綜合穩(wěn)定度 | ≤0.2% |
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